紫外辐射和紫外漫反射光谱校正及测量
(周期减小)而增加。在不同的过电压激发下的发光器件 ,应选择相应的形成电压,才能
够得到较高的积分平均亮度。可以预期,控制发光器件的工作电潇,自动随机地调整器件
的工作状态,是从工作线路上提高发光器件工作寿命 ,保持相应亮度的可靠途径。
参考文献
紫外辐射和紫外漫反射光谱 舛 音
嚣 /7一 于宝 勿 佐 。
⋯ ⋯ 卿 130021 幕 (中国科学院长春物理研究所. 长春 ) ⋯
H 随着环保、医疗、保健、农业的发展对非照明用的近紫外 (250~400nm)光源的品种和 ,f、,1A ,。
数量...
(周期减小)而增加。在不同的过电压激发下的发光器件 ,应选择相应的形成电压,才能
够得到较高的积分平均亮度。可以预期,控制发光器件的工作电潇,自动随机地调整器件
的工作状态,是从工作线路上提高发光器件工作寿命 ,保持相应亮度的可靠途径。
参考文献
紫外辐射和紫外漫反射光谱 舛 音
嚣 /7一 于宝 勿 佐 。
⋯ ⋯ 卿 130021 幕 (中国科学院长春物理研究所. 长春 ) ⋯
H 随着环保、医疗、保健、农业的发展对非照明用的近紫外 (250~400nm)光源的品种和 ,f、,1A ,。
数量的要求日益增加,固而对紫外荧光粉和紫外灯光参数的测量也已提到日毫上来。本工作 (,/7歹 Z
,11 』 相对测量。文中列出紫外荧光粉和紫外灯的光谱功率分布实测结果和粉体材料紫外光谱漫反
\/ 射比实测结果。最后探讨丁实现规范化测量的几点措施。
I.1校正
光源的选择
参照美国国家标准局和中国计量科学院及长春光机所等权威机构的资料,近紫外波
段校正用光源以1000瓦溴钨灯为首选光源 ,它是目前国际上公认的光谱辐射照度标准灯。
我们选用了IOO0瓦溴钨灯 ,经过充分点燃老化后送中国计量科学院进行检定。
I.2校正用标准靶板的选择
对分光探测系统进行光谱校正,除了有光谱辐射照度标准灯外,还必须有光谱漫反
射比稳定的靶板,以便将标准灯的辐射反射到分光探测系统中去 ,因此,选择适当的靶
板,是进行光谱校正的另一关键。根据有关专著⋯介绍常用的靶板有 MgO压片,tMSO·压
片,海伦板等,如图1所示。
在同一专著⋯中还给出了BaSO.和海伦板光谱漫反射比的具体数值,见
1
光谱漫反射比在250~400nm波段内变化不大且高于95 。实际上我们国产的海伦
37 —
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衰l
BaSO一}海伦扳光谱攫反射 比
波长 (nm,
圈l 各种自板的光谱漫反射比曲线.(1)海伦板}(2)新制MgOf
(2A)陈放MsO板}(3)BaSO.压片}(4)BaSO.与聚乙烯
撩层 I(5)Ms一14玻璃 }(6)玻璃瓷砖
谊 长 ~hill’
图2 和光一级纯 MsO
光 _蒜 光挂
图3 国产高纯 MsO
一 38
圈4 分光探测仪系统的校正方式
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表2 国产海伦板光谱漫反射比
板也达到这种水平。表2即为中国计量科学研究院提供的海伦标准白板的光谱漫反射比数
据,我们即 此做为校正用的标准白板。
另外,我们还对 日本和光一级 MgO和国产高纯 MgO进行了比较,认为后者可做为
日常测试用的参比板。两种MgO的光谱漫反射比如图2,图3所示。
1.3编制数据采集及数据处理程序
1.4系统校正系数的确定
我们用1000瓦澳钨灯配漫反射标准白板对分光探测系统进行校正,求得几组校正系
数。其基本光路见图。
图4a为45/45方式,非 CIE推荐的测光方式而 ;图4b为0/45方式 ,为 CIE推荐的测
光方式;我们实际采用的是如图4c所示的30/60测光方式。这种方式虽然不是 CIE推荐的
方式,但仍然能避开镜面反射的影响。
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我们设进入系统前的光谱辐射为 厶 ,在漫反射白板处的辐照度为 t反射 比 t则
L 。cE ·R 。经过系统后的光谱辐射为L’ ,L 与 之问存在某种传递的关系t设此传
递因子 (以后称为校正系数)为 墨 ,则有 L /L 一墨 , 即为我们所求的对系统进
行校正的校正系数。用求得的 而 来对粉末紫外发光的材料或紫外光源进行辐射谱测量。
2 紫外辐射谱的测量结果
我们选择了三种荧光材料和一种低压汞灯及一种紫外荧光灯进行辐射谱的测量,测
鼍结果如图5~图9所示
2S0 190 330 370
随 长 fl1.n1
图5 ^~254nm.营 口紫外荧光粉
图7 =254mn,A 厂紫外荧光粉
— — 40 ——
l套
*
霄
警
鬟
量
nm
图6 屯 ~254nm.自产紫外荧光粉
油 t七 1、
图8 低压汞灯
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3 漫反 射 光谱 测试 结 果
以国产高纯 MgO为参比,测得漫
反射光谱如下 (采用150瓦高压氙灯光
源),如图10~图l2所示。
按CIE推荐的冽光方式 ,漫反射比
如不能按0/45方式进行 ,亦应采取0/d
方式进行,即应如图l 3所示的方式进行。
几个值得探讨的问题 :
1.光谱辐照度标准灯 (分布)的辐
照度值在不同波长处其不确定度不同。
甚至对于二级基准而言,250nm,400nm
处的不确定度高达9.5和6.1 3,一般工
作基准的不确定度更大,因此,对近紫
外辐射尤其250~300nm波段的测试很
难保证较高精度,另外测光方式的不完
全规范,也大大增加了测试结果的不确
定度。
母
求
抖
妊
霉
谜 长 (nm ’
圈9 案外荧光灯
2.根据我们的经验,光谱漫反射比与材料的表面状态 (粒径分布,环境湿度)有密
切关系,有关资料也指出·如新制MgO与陈放的MgO,其光谱漫反射比曲线在短波段
差异很大,所以样品制备、保存、检测都应严格按照规范进行。
图10 紫外 (营 口)粉漫反射谱
兰
谣
譬。
萋
々
波 I n—I
图II 自产紫外粉漫反射谱
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兰
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韶
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法 K (f,m)
圈l2 跃把稀±绿弗}漫反射谱
卧
圈13 O,d测光方式
3.本仪器测得的粉末荧光材料的漫反射谱较之一般分光光度计测得的漫反射谱更接
近真实,因为本方法是前后两个分光系统同步扫描,消除了短波紫外激发样品所发出的
可见发光和长波紫外发光的影响。
4.谩反射光谱是采取与MgO对比或直接与海伦板对比得到的,因此欲求粉体材料
漫反射比的绝对值还必须考虑到MgO和海伦板本身的光谱漫反射比的绝对值。
5.小积分球内壁涂层的光谱漫反射较低 ,尚待改善配方和喷涂工艺进一步提高其谩
反射比。
参考文献
[1]Klaus D.Midenz-Optical Rediatlon Measurements.13.158
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