制程能力分析

nullnullnullGIANTPLUS OPTOELECTRONICS大纲 名词解释 制程能力分析步骤nullGIANTPLUS OPTOELECTRONICS变异一般与特殊原因 一般原因:制程中某些微小而不可避免的原因,现象所此造成之分配与时间的关系是稳定而可重复,可预测的. 特殊原因:制程中不常发生但造成制程变异的原因,此现象所造成之分配与时间的关系是不稳定且无法预期的 名词解释nullGIANTPLUS OPTOELECTRONICS制程能力 当我们的制程处于稳定状态时,即对制程进行研究分出一般原因与特殊原因,消除特殊原因,只存在一般原因,此时的制程状况处于稳定状态即是我们所谓的制程能力 侦查制程是否处于稳定状态,需要借助于管制图,通过管制图找出一般原因与特殊原因,确定制程状况,方可进行制程能力分析nullGIANTPLUS OPTOELECTRONICS制程准确度Ca(Capability of accuracy) 生产中所获得产品数据的实绩平均值(X)与规格中心值(u)其间偏差的程度即称之为(制程准确度),即衡量制程平均值与规格中心值两者间的一致性Ca=实际平均值-规格中心值规格公差/2*100%=(x-u)/T/2*100%注明:当为单边规格时无Ca值nullGIANTPLUS OPTOELECTRONICSCa值的评估 Ca值越小,品质越佳,为了便于区分制程实绩值(X)的好坏一般将Ca值分成4个等级作为评估的.A级:理想的状态故维持现状 B级:尽可能调整﹑改进为A级 C级:应立即检讨并予以改善 D级:采取紧急,并全面检讨,必要时应考虑停止生产nullCa反应工序实际平均值与规格中心值之间的差异GIANTPLUS OPTOELECTRONICSUCLLCL规格中心值制成平均值Ca=23%nullGIANTPLUS OPTOELECTRONICS制程精密度Cp(Capability of precision) 以规格公差(T)与自生产中所获得产品数据的6个估计绩标准差()其间相差程度,即在衡量规格公差范围与制程变异宽度两者之间相差的程度 Cp值=规格公差6个估计实绩标准差=T/6双边规格时nullGIANTPLUS OPTOELECTRONICSCp值=规格上限-平均值3个估计实绩标准差=USL-X/3Cp值=3个估计实绩标准差=X-LSL/3单边规格时规格下限-平均值nullGIANTPLUS OPTOELECTRONICSCp值的评估 Cp值越大,质量越佳,为了便于区分制程实绩估计标准差的好坏,一般将Cp值分成5个等级作为评估的标准.nullA+级: 产品变异如大一些也不要紧,考虑管理的简单化 或成本降低方法A级: 理想的状态故维持现状B级: 确实进行制程管理,使其保持在管制状态,当Cp 接近于1时,恐怕会产生不良品,尽可能改善为A 级C级: 生产不良品,产品须全数选别,并管理,改善制程D级: 质量无法在满足的状态,须进行质量的改善,探 求原因.须要采取紧急对策,并重新检讨规格GIANTPLUS OPTOELECTRONICSnulluLSLUSL Cp说明尺寸分布的范围大小﹐并不说明尺寸分布局中心位置的远近 GIANTPLUS OPTOELECTRONICS规格中心值,制成中心值制成中心值Cp=1null制程能力指数Cpk 将Ca与Cp两值同时参考而对制程作一个客观评价的指标即Cpk,既考虑到变异的宽度,又考虑实绩平均值与规格中心值两者的比较.其计算公式有两种Cpk = (1-K)T6= (1-|Ca| )CpK=|X-u |T/2=|Ca|(1)GIANTPLUS OPTOELECTRONICSnull当Ca = 0时Cpk = Cp(单边规格时,Cpk即以Cp值计之) =Rd2(2)Cpk =Zmin3Zmin =[ Su-X与-(Sl-X) ]的最小值d2之参考表GIANTPLUS OPTOELECTRONICS(1)(2)= i=1n(Xi-X)n-1(X为所有数据之平均值) =Rd2Zmin =[ Su-X与-(Sl-X) ]的最小值i=1n(Xi-X)n-1 = 3null示例: 在内胎压出工程其长度规格为750+/-10mm,而十一月份压出工程长度之实际平均值为749mm,实际估计标准差为4mm,计算十一月份之Ca, Cp,Cpk为何?十一月份Ca值 =(x-u)/T/2*100% =(749-750)/10*100%=-10%(A级)Cp = T/6 =20/6*4=0.83(C级)Cpk = Cp*(1-|Ca| ) =0.83*(1- | -10% | ) =0.747(C级)GIANTPLUS OPTOELECTRONICSnull示例: GIANTPLUS OPTOELECTRONICSnullnullProcess Capabilitynull 制程能力分析步骤 确切了解要调查的质量特性与调查范围 确定制程是处于稳定的状态 计算制程能力指数 判断制程能力是否足够,如不足时,则加以改善这四个步骤可以循环使用,直到获得满意的制程能力为止.GIANTPLUS OPTOELECTRONICS