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测试 测试方法遵照于EC507（固体层法）标准以及三个条件，清洁条件，光污染状况和中度污染物情况。为了确定污染物的等级，可使用盐密方程计算，如下, 这里, G ： 污染物的重量 （mg） ： 20℃ 的液体电导率（） ： 水的体积（cc） A ： 绝缘体的表面积（c㎡） ESDD： 等效盐的浓度（mg/ c㎡） 表1显示基于方程1和2去了解绝缘体污染物的等级 表1 绝缘体污染等级 测试在每一种条件下进行了三次，当温度上升时或温度下降时。测试如图2。为了增加绝缘体表面的温度，测试中使用了4个人造的聚光灯，其位置放置如图3。 图2.测试电路 图3.人造光源相对于环氧树脂绝缘体的位置 通过红外测温仪测试绝缘体表面温度，并且记录下每次的数据 测试结果分析 关于树脂环氧绝缘体临界闪络电压测试结果温度变化如下。 温度分析 图4显示，由于灯光线辐射照到绝缘体表面，导致绝缘体表面的温度持续升高。灯的光线造成绝缘体表面泄漏电流增加。随着电灯聚光在被污染的导体上，导体表面的温度将会更高。这是由于聚光灯的光线不断加热导致的，经过一段时间的聚光照明，温度恒定不变，维持在60摄氏度，如图4。在体验聚光条件下，这个温度依然高于绝缘体在清洁情况下，平均达到58摄氏度。 温度与时间曲线 时间（分钟） 清洁的绝缘体 被污染的绝缘体 图4，在灯光受热下的温度与时间的曲线 泄露电流分析 如果绝缘体用灯泡的光线聚光照明，泄漏电流则会减少。如图5 泄露电流与时间的曲线 时间（分钟） 清洁的绝缘体 被污染的绝缘体 图5，泄露电流与时间的曲线 从图表上显示，泄漏电流随温度升高变化是恒定的。即使有泄露电流增加情况发生，其也将非常小。 在受污染的绝缘体条件下，这里有薄薄一层的污染物。这种污染层导致的泄露电流情况则取决于污染物的类型。因为导电的污染物会通过污染层增加泄露电流的等级。