开路和短路测试
开路一. 开路和短路测试
一. 开路一. 开路和短路测试(Opens and Shorts Test)
1目的:验证所有的信号引脚是否都接触良好以及信号引脚与信号引脚或者
power/ground pin之间有无短路.
2原理:device的每个引脚上都有一对保护二极管,在测试过程中观察保护二极管
是否起到钳制电位的作用,来判断引脚的好坏.
3方法:串行/静态法和功能测试法
1) 串行/静态法(Open and Shorts Serial Static Method)
所有device pins包括power和ground pins都接地.
用PMU连接单个引脚,灌入一定值电流(100uA-500uA,接VDD二极管导通),测电
压.
如果测得电压在二极管导通电压(0.2-1.5v)范围内,则pass,该pin为良.
如果测得电压大于保护二极管导通电压(>1.5v),则fail,该pin断路.
如果测得电压<0.2v,则fail.该pin短路.
或者, 用PMU连接单个引脚,拉出一定值电流(接地二极管导通),测电压.
情况与上面相似.
如果测得电压在二极管导通电压(-0.2--1.5v)范围内,则pass,该pin为良.
如果测得电压大于保护二极管导通电压(<-1.5v),则fail,该pin断路.
如果测得电压>-0.2v,则fail.该pin短路.
重复以上步骤,直到每个signal pin都被测好,一般我们使用拉出电流的方法(即接
地二极管电流)
2) 功能测试法(Open and Shorts Functional Method)
VDD和ground 接地
用Drive驱动每个信号引脚至0v.
断开一个pin的Drive,用动态负载灌入一定值电流,由comparator判断pin输出电
压,确定是否符合要求(Z态)
测完这个pin就恢复这个pin的驱动,然后重复以上步骤测试下一个pin.
3) 两种方法的比较
串行/静态法:结果清晰,但耗时
功能测试法:速度快,但是结果不好
可以先用功能测试法测,如果出现错误,则用串行/静态法测试分析具体情况
individually
测试的设备主要分成上个DUT( device under test) , PMU(Parametric Measurement Unit) 和Pin Electronics 组成。被测试的硅片或芯片放在DUT上,PMU提供需要的电压和电流,并且还量测输出电压和电流,Pin Electronics起到连接DUT 和PMU的作用。针对不同的测试的器件和参数,需要编写不同的程序去控制测量
PE就是channel的接口单元,一般tester除了独立于PE的资源(比如DPS,PMU,TMU,APG,Digitizer,FG等)以外,还要针对每个channel配置单独的测量模块,以便进行Open/short,function的测试.
PEcard在tester的成本中占有很大比例,以致于大多数tester都是以channel数目来定价格的.