晶粒度图片

晶粒度图片 45H-200X-1 1 截点法公式: ,= ,/M.P ,:所使用的测量线段长度(mm), M: 观测用的放大倍数 P: 测量直线上的截点 ,测量面上晶粒截距的平均值(查: 平均截距一栏)截点的计算: 计算截点时注意: 1测量线段终点不是截点不予计算; 2 终点正好接触到晶界时,计为0.5个截点; 3 测量线段与晶界相切时, 计为1个截点; 4 明显的与三个晶粒汇合点重合时, 计为1.5个截点; 5 在不晶粒形状下,测量线在同一晶粒边界不同部位产生的两个截点;后又伸入形成新的截点, 计算截点时应包括新的截点. 2 平均晶粒度级别数G的计算:G=6.643856lg(M.P/L) –3.288 45H-200X-2 1 截点法公式: , = ,/M.P ,:所使用的测量线段长度(mm), M: 观测用的放大倍数 P: 测量直线上的截点数 ,测量面上晶粒截距的平均值(查表: 平均截距)截点的计算: 计算截点时注意: 1测量线段终点不是截点不予计算; 2 终点正好接触到晶界时,计为0.5个截点; 3 测量线段与晶界相切时, 计为1个截点; 4 明显的与三个晶粒汇合点重合时, 计为1.5个截点; 5 在不规则晶粒形状下,测量线在同一晶粒边界不同部位产生的两个截点;后又伸入形成新的截点, 计算截点时应包括新的截点. 2 平均晶粒度级别数G的计算:G=6.643856lg(M.P/L) – 3.288 45H-200X 1 截点法公式: ,= ,/M.P ,:所使用的测量线段长度(mm), M: 观测用的放大倍数 P: 测量直线上的截点数 ,测量面上晶粒截距的平均值(查表 平均截距)截点的计算: 计算截点时注意: 1测量线段终点不是截点不予计算; 2 终点正好接触到晶界时,计为0.5个截点; 3 测量线段与晶界相切时, 计为1个截点; 4 明显的与三个晶粒汇合点重合时, 计为1.5个截点; 5 在不规则晶粒形状下,测量线在同一晶粒边界不同部位产生的两个截点;后又伸入形成新的截点, 计算截点时应包括新的截点. 2 平均晶粒度级别数G的计算: G=6.643856lg(M.P/L) – 3.288 45H-200X-4 1 截点法公式: ,= ,/M.P ,:所使用的测量线段长度(mm), M: 观测用的放大倍数 P: 测量直线上的截点数 ,测量面上晶粒截距的平均值(查表 平均截距)截点的计算: 计算截点时注意: 1测量线段终点不是截点不予计算; 2 终点正好接触到晶界时,计为0.5个截点; 3 测量线段与晶界相切时, 计为1个截点; 4 明显的与三个晶粒汇合点重合时, 计为1.5个截点; 5 在不规则晶粒形状下,测量线在同一晶粒边界不同部位产生的两个截点;后又伸入形成新的截点, 计算截点时应包括新的截点. 2 平均晶粒度级别数G的计算: G=6.643856lg(M.P/L) – 3.288 45H-200X-5 1 截点法公式: ,= ,/M.P ,:所使用的测量线段长度(mm), M: 观测用的放大倍数 P: 测量直线上的截点数 ,测量面上晶粒截距的平均值(查表平均截距)截点的计算: 计算截点时注意: 1测量线段终点不是截点不予计算; 2 终点正好接触到晶界时,计为0.5个截点; 3 测量线段与晶界相切时, 计为1个截点; 4 明显的与三个晶粒汇合点重合时, 计为1.5个截点; 5 在不规则晶粒形状下,测量线在同一晶粒边界不同部位产生的两个截点;后又伸入形成新的截点, 计算截点时应包括新的截点. 2 平均晶粒度级别数G的计算:G=6.643856lg(M.P/L) – 3.288 45H-200X-6 1 截点法公式: , = ,/M.P ,:所使用的测量线段长度(mm), M: 观测用的放大倍数 P: 测量直线上的截点数 , 测量面上晶粒截距的平均值(查表 平均截距)截点的计算: 计算截点时注意: 1测量线段终点不是截点不予计算; 2 终点正好接触到晶界时,计为0.5个截点; 3 测量线段与晶界相切时, 计为1个截点; 4 明显的与三个晶粒汇合点重合时, 计为1.5个截点; 5 在不规则晶粒形状下,测量线在同一晶粒边界不同部位产生的两个截点;后又伸入形成新的截点, 计算截点时应包括新的截点. 2 平均晶粒度级别数G的计算:G=6.643856lg(M.P/L) – 3.288 45H -200X-7 1 截点法公式: , = , /M.P ,:所使用的测量线段长度(mm), M: 观测用的放大倍数 P: 测量直线上的截点数 ,测量面上晶粒截距的平均值(查表平均截距)截点的计算: 计算截点时注意: 1测量线段终点不是截点不予计算; 2 终点正好接触到晶界时,计为0.5个截点; 3 测量线段与晶界相切时, 计为1个截点; 4 明显的与三个晶粒汇合点重合时, 计为1.5个截点; 5 在不规则晶粒形状下,测量线在同一晶粒边界不同部位产生的两个截点;后又伸入形成新的截点, 计算截点时应包括新的截点. 2 平均晶粒度级别数G的计算:G=6.643856lg(M.P/L) – 3.288