光标动态智能测量
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AbstractThethoughtoftheOplicMMarkintelligentn3eR8urcn3eNtisintroduced,andistrie
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speed.originM--principle.
smiple--methodandhigh—measuerdprecisiaaetc. Keywo~dsOpticalmarkIntel[igem…s…entMethodoflimitfiltering
l引言
由于信息时代的到来,传统的计算机输
入方法已不能适应科技发展的需求.因此,光
标输入方式日益广受采用.而光标动态智能
测量技术则成为大量输入数据信息的专用设
备——0MR
时的重中之重.
这个测量过程是由光电转换器拾取运动
中信息载体卡片上的所有光标信号,经多路
上式中,^+为^的最高频率限,一为^的最低限,取一100kHz,可保证测量频率 在系统正负方向最高时能准确,可靠的解码.
6结束语
本文所述的激光多普勒信号处理器不仅可以用于多普勒信号,对于双频和单频外差信号
亦具有一定的通用性.把硬件解码方法和累计相减法二者结合,配上出错快速捕捉电路,还可
以组成一个互校验自诊断和动态监测保护系统,它可以发现小至一个脉冲的丢失,用于高精度
测量和控制系统是十分方便的.其硬件锵码电路和出错快速捕捉电路可以用一片FPGA芯片
来实现,使用更加灵活,方便.笔者在一种超精密大型光绘机上使用了这种信号处理器,取得十
分满意的效果.
参考文献
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5.Zizzi,Steve.AUtomaringArtworkGeneration.Printedcircuitdesv4n3msr1987.
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电子测量技术?39?
模拟电子开关,A/D转换电路送入计算机系
统,再由软件数字滤波处理后,形成一个反映
载体上所有信息编码的字符串.大量信息载
体经上述测量过程后,在计算机内存中形成
一
个文本文件并存入磁盘.为数据信息研究
和使用提供了必需的基础环境.因此,以光标
红外发光管
动态智能测量为原理的OMR具有非常广阔
的应用前景.
2硬件原理介绍
一
个光标测量的硬件由光电转换器,电 子开关,缓冲器,A/D转换电路,机电驱动机 构,CPU等组成.见图1
图1光电转换原理与OMR组成框图 光电转换器由若干组红外发射接收对管 组成.每组红外对管对应卡片上一列光标信 息位.缓冲器在A/D电路前起着阻抗变换作 用,以减小A/D输入阻抗对光电模拟信号的 影响A/D转换模块由若干个A/D转换器 并行连接组成它是为适应多路光电信号输 入和光标动态测量需要的专用A/D转换电 路模块.它通过缓冲器与CPU连接,而资源 共享式OMR2则经PC或APPLE总线与 CPU沟通.CPU的地址信号和控制信号的 组合译码控制多路电子开关瞬间切换各路光 电信号与缓冲器的通路;机电执行机构则起 着移动光标载体卡片高速且平稳运行通过光 电转换器的作用.
3光标智能测量原理
如前所述,当信息载体进入光电转换器 作匀速运动时.一组红外光电管对应着一列 光标信号.在接收管的输出端对应着该列所 有光标的模拟电信号.随着光标的涂写深浅 或有无,该模拟电信号呈现平直或凹陷的波 形.在载体的整个位移运动中,所有接收管的 输出端都会出现上述情况.因此,光标智能测 量就是在一张信息载体卡片进入OMR的零 点几秒时间内,由CPU通过模拟电子开关 的快速切换对所有光标模拟信号传输至对应
的A/D输入端,再由CPU采集读入内存采 集频率的多少,决定着准确度指标的高低.从 理论上讲,采样次数越多越有益于准确度指 标.A/D器件的转换速度和卡片运行速度又 制约着采样次数.但是,佩斯特测量公式告 诉我们,对一个光标信号的等精度}曼i量中,测 量次数大于两次即可保证该光标的测量准确 度.图2为一列光标的测量波形图.
,对应黑色光标的位置上,有 由图2看到
一
明显随黑度不同而变化的凹陷波形.对应 白色光标位置上,是杂散着一些微弱干扰信 号但还是比较平直的波形这些干扰来自载 体多元性和光标印刷时的一些疵点以及某些 随机干扰源.测量过程必须将正常黑色信号 正确无误的识别出来,而所有干扰信号必须 滤除掉.为了实现上述两目的,光标智能测量 采用了根据其特点设计的"极限"滤波技术. 简述如下:
当一个测量源f(x)无限逼近另一测量 源f(x)时.其极限值等于零即:
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(1)
这就是说,当一个光标位置的测量值和 它附近区域测量值的距离越接近,则它的干 扰信号越小,且趋近于零.于是这个光标的相 对测量值使用下式得到:
D=[(V.+V})/2,vb]c(2)
v为光标前非信号区域N个测量值 中的最大值
V:为光标后非信号区域N个测量值 中的最大值
V为光标位置区域N个测量值中的 最小值
c为一常数,由实验结果得到
(2)式的结果即为一个光标位置的测量 相对值.它实际上反映了其状态的情况.当黑 度越深,相对测量值越大反之越小.当光标 无黑色时,测量相对值接近或等于零.在进入 下一光标的测量中,(2)式中的V变成新的 v.只待测量到下一光标的V:和V,即可 求得反映该光标的测量相对值.
在实际应用中,为了增大光标的信息容 量,诸光标之间的距离是很小的.这就为极 限"滤波技术提供了基础保证而所有光标的 V…V,和V都是在动态位移中测量得到. 因此,从某种角度而言,上述三个测量值几乎 是同一区域内三个点的测量值.用"极限"的 语言描述就是三点互相趋近.这样,图2中干 扰源的影响在这个区域内降低到最小.但是,
偶然随机的干扰源,诸如载体的杂质,光标涂 写不良等都可能造成随机干扰误差.因此用 "极限"滤波法和(2)式得到的运算结果再减 去一个常数C,即可得到反映光标涂写状态 的一个相对值,而不是它的实际测量值.但是 这个相对值更能反映光标的映象状态.信息 载体内数百甚至上千个光标在零点几秒时间 内都经历了上述智能测量过程,便形成了反 映该卡片内容的信息矩阵.再经一个"
编 辑"软件的处理就产生了与该卡片对应的字 符串.同样,万千上万个载体上所有光标通过 上述测量过程后,便形成了一个数据文本文 件或库文件,使大量信息数据快速输入计算 机系统成为现实
4结束语
上述光标测量的软硬件方法主要是针对 光标动态测量和光标信号涂写状态不一的特 殊要求提出的并使用在OMR设计中.这种 光标的智能测量方法是否可以说,在非电量 电子测量领域中又增加了一种新的测量方法 或手段.如能抛砖引玉,这是笔者所希望的. 参考文献
1.姜伟光.单片机控制的自动OMR设计,电子谢量技术,1995.3
2姜伟光.资源共享式OMR电子计算机外部设备,1994.(18)5
3郑家祥等.电子测量基础.北京:国防工业出版社,1981