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超声波检测二级考试试题及答案邓同新

2019-05-09 16页 doc 39KB 198阅读

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超声波检测二级考试试题及答案邓同新超声波检测二级考试试题及答案 三.问答题 1. 超声场分为几个区域? 2. 各个区域的主要特征是什么?用示意图注明简述之 [提示]超声场是由声源发射超声振动的空间而形成特殊场,它可以根据超声在空间各部位声压大小不同,形象地用图示方法表示出来(如下图a):超声场分为近场和远场两大部份,其中主声束以锥体形状(犹如鲜花主瓣),近场区内主声束以外的称为副瓣。主声束的扩散角按零阶贝塞尔函数计算出其主瓣的锥角范围,即J1(X)=J1(kasinθ),J1(X)有很多根,其中最小的根为X0=3.83, 则sinθ0=3.83/k...
超声波检测二级考试试题及答案邓同新
超声波检测二级考试试 三.问答题 1. 超声场分为几个区域? 2. 各个区域的主要特征是什么?用示意图注明简述之 [提示]超声场是由声源发射超声振动的空间而形成特殊场,它可以根据超声在空间各部位声压大小不同,形象地用图示方法表示出来(如下图a):超声场分为近场和远场两大部份,其中主声束以锥体形状(犹如鲜花主瓣),近场区内主声束以外的称为副瓣。主声束的扩散角按零阶贝塞尔函数计算出其主瓣的锥角范围,即J1(X)=J1(kasinθ),J1(X)有很多根,其中最小的根为X0=3.83, 则sinθ0=3.83/ka=(3.83/2π)(λ/a)=(3.83/π)(λ/2a) sinθ=1.22(λ/D) [D=2a--晶片直径,a为半径],求出θ0值即为主瓣的扩散角(θ0),当用J2(X)、J3(X)......分别求出第一副瓣、第二副瓣......的扩散角θ1、θ2......等(如下图b),同样由sinθ=1.22(λ/D)求出,当S=b=1.64(D2/4λ)=1.64N时,主声束由晶片中心扩散到晶片边缘的距离(也可用二项式展开证明)(注:也有资料以1.67N为主声束由晶片中心扩散到晶片边缘的距离) 2.试比较射线探伤与超声波探伤两种方法的适用范围和局限性 [提示]:应从两种方法的灵敏度高低、检测厚度范围、易发现的缺陷形状以及安全防护和经济性等方面进行比较 3.何谓波的、干涉现象?什么情况下合成振幅最大?什么情况下合成振幅最小? 答:①两列频率相同,振动方向相同,相位相同或相位差恒定的波相遇时,由于波叠加的结果,会使某些地方的振动始终互相加强,而另一些地方的振动始互相减弱或完全抵消,这种现象称为波的干涉,产生干涉现象的波称为相干波。相干波现象的产生是相干波传播到各点时波程不同所致。②当波程差等于波长的整数倍时,合成振幅达最大值。③当波程差等于半波长的奇数倍时,合成振幅达最小值。 4.何谓驻波??为什么通常取晶片厚度等于半波长? 答:①两列振幅相同的相干波,在同一直线上相向传播时互相叠加而成的波,称为驻波。②当介质厚度等于半波长整数倍时,会产生驻波。所以取晶片厚度可以形成驻波,产生共振,使合成振幅最大,有利于提高探头辐射超声波的效率。 5.什么是惠更斯原理?它有什么作用? 答:惠更斯原理:介质中波动传播到的各点都可以看到是发射子波的波源,其后任意时刻这些子波的包迹就是新的波阵面。利用惠更斯原理,可以确定不同波源辐射的声波的形状和波的传播方向,可以解释声波在均匀和非均匀介质中传播的许多现象。 6.什么叫衰减?产生衰减的原因是什么? 答:超声波在介质中传播时,随着距离的增加,能量逐渐减小的现象叫做超声波的衰减。超声波衰减的原因主要有三个:①扩散衰减:超声波在传播中,由于声束的扩散,使能量逐渐分散,从而使单位面积内超声波的能量随着传播距离的增加而减小,导致声压和声强的减小。②散射衰减:当声波在传播过程中,遇到不同声阻抗的介质组成的界面时,将发生散乱反射(即散射),从而损耗声波能量,这种衰减叫散射衰减。散射主要在粗大晶粒(与波长相比)的界面上产生。由于晶粒排列不规则,声波在斜倾的界面上发生反射、折射及波型转换(统称散射),导致声波能量的损耗。③粘滞衰减:声波在介质中传播时,由于介质的粘滞性而造成质点之间的内壁摩擦,从而使一部分声能变为热能。同时,由于介质的热传导,介质的疏、密部分之间进行的热交换,也导致声能的损耗,这就是介质的吸收现象。由介质吸收引起的衰减叫做粘滞衰减。 7.什么叫超声波声场?反映超声波声场特征的重要物理量有哪几个?什么叫声压、声强、声阻抗? 答:充满超声波的空间,或者说传播超声波的空间范围叫做超声波声场。声压、声强、声阻抗是反映超声波声场特征的三个重要物理量,称为超声波声场的特征量。超声波声场中某一点在某一瞬间所具有的压强与没有超声波存在时,同一点的静态压强之差,称为声压。单位时间内穿过和超声波传播方向垂直的单位面积上的能量称为声强。介质中的任何一点的声压和该质点振动速度之比称为声阻抗。 8.超声波检测利用超声波的哪些特性? 答:①超声波有良好的指向性,在超声波检测中,声源的尺寸一般都大于波长数倍以上,声束能集中在特定方向上,因此可按几何光学的原理判定缺陷位置。②超声波在异质介面上将产生反射、折射、波型转换、利用这些特性,可以获得从缺陷等异质界面反射回来的反射波及不同波型,从而达到探伤的目的。③超声波检测中,由于频率较高,固体中质点的振动是难以察觉的。因为声强与频率的平方成正比,所以超声波的能量比声波的能量大得多。④超声波在固体中容易传播。在固体中超声波的散射程度取决于晶粒度与波长之比,当晶粒小于波长时,几乎没有散射。在固体中,超声波传输损失小,探测深度大。 9.在超声波反射法检测中为什么要使用脉冲波? [提示]:①可使瞬时内发射能量很大,而总能量不大;②可做时标用,测量超声波在工件中的传播时间,从而对缺陷进行定位;③不是单色波,可克服缺陷厚度对超声波反射率与透过率的影响;④可显著减少入射波与反射波之间干涉区的长度;⑤从技术上比较容易制造出脉冲波的超声波检测仪 10.什么叫波的叠加原理? 答:波动的下述规律称为叠加原理:①两列波在传播过程中相遇后仍然保持它们各自原有的特性(频率、波长、振幅等)不变,按照自己原来的传播方向继续前进;②在相遇区域内,任意一点的振动为两列波所引起的振动的合成 11.什么叫波的绕射现象? 答:波在传播过程中遇到尺寸可以与波长向比拟的障碍物,或者一个大障碍物上尺寸可与波长比拟的小孔时,能绕过障碍物或穿过小孔继续传播,而不会在障碍物背面产生"阴影"的现象叫做波的绕射现象 12.说明超声波声场具体分为哪几个区域? 答:超声波声场具体分为四个区域:①主声束和副瓣--声源正前方,声能最集中的锥形区域即为主声束,声源发射的声能主要集中在主声束。声束副瓣也称副声束,通常出现在邻近探头晶片的一个区域内,旁侧 于主声束,其轴线倾斜于晶片表面,能量微弱,截面较小,晶片尺寸和波长之比的不同,副瓣的数量和辐射方向也不相同;②近场--指主声束中心轴线上最后一个声压极大值处至晶片表面这一区域,近场长度用N 表示,它取决于晶片的直径D(或面积AS)和波长λ,用公式N=(D2-λ2)/4λ≈AS/πλ表示。近场区邻近压电晶片,声压分布最不均匀,这是由于该区域内声波干涉现象最严重,因此近场区也称干涉区,干涉现象对探伤有很大影响,探伤时要尽量避免;③远场--近场以外的区域称为远场。远场中各子波传播的距离已经很远,相位几乎相等,各量可以简单相加,声压值随距离增加而单调下降。远场区的大小由晶片尺寸、波长、介质的声学特性及激励晶片的电压决定,实质上即与超声波的发射功率以及传声介质特性相关;④未扩散区--主声束横截面与声源直径相同之点至近场与远场分界点的一段区域称为未扩散区,该点至晶片表面的距离约为近场区长度的1.6倍,该区域中的平均声压可以看作常数,从该点开始,主声束扩散,形成锥体。 13.现有一合金材料(CL=2.3x106mm/s,CS=1.63x106mm/s),用2.5MHz13x13 tgβ=2(β=63.4°)(有机玻璃-钢)的斜探头,能否实现在该材料中的纯横波探伤?如果不能,请说明理由并提出应采取什么措施?答:不能,因为不存在第一临界角,合金材料中始终是纵、横波同时存在,解决的办法是使波型转换器(有机玻璃斜楔)的声速降到C1L记录
,求所用的探伤灵敏度(以平底孔当量表示)是多少?如果该锻件的材质衰减(双声程)为0.02dB/mm,在150mm处发现一个回波高度为18dB 的缺陷,求缺陷当量?(答案从略) 8.在前沿长度为10毫米,tgβ分别为1、2、2.5的三种斜探头中,哪个适合用于上宽度24mm,下宽度22mm,上加强高5mm,下加强高3mm,板厚25mm的平钢板对接焊缝检测?并求出所需要的探头扫查范围,若在声程120mm处(已扣除斜楔声程)发现一个缺陷,求缺陷的水平及深度位置。 答:选用tgβ=2的探头,扫描范围≥150mm,缺陷水平距离107.3mm,埋藏深度3.7mm 9.在使用tgβ=2,2.5MHz的斜探头探测25mm厚度的钢板对接焊缝时,若用深度距离44mm的Φ6mm横通孔试块调节灵敏度,要求能在同样深处发现Φ2mm平底孔当量的缺陷,则应将Φ6mm横通孔回波提高多少dB?(楔内声程为7mm)答:11dB 10.把合金轴瓦浸没在水中(即钢套与合金层均与水接触),用直探头接触法在合金层面上垂直入射纵波,检测粘合质量,问:粘合良好处的界面回波和底波之间相差多少分贝?(合金层声阻抗25x106Kg/m2s,钢套声阻抗45x106Kg/m2s,曲率和衰减影响不计)答:4dB 11.超声波从声阻抗Za=39.3x106Kg/m2s的A介质透过Zb=25.5x106Kg/m2s的B介质,进入C介质的垂直往返过程中,其往返透过率为(-12dB),若不考虑超声波在介质中的衰减,C介质的声阻抗Zc是多少?答:Zc=1.5x106Kg/m2s 12.超声波从A介质通过B介质透入C介质,在A/B界面上产生一个声压为PA的回波,在B/C界面上产生一个声压为PB的回波,已知:A、B、C三种介质的声阻抗分别为 ZA=26.8x106Kg/m2s;ZB=18.3x106Kg/m2s;ZC=2.4x106Kg/m2s,在不考虑三种介质衰减情况下,求PB比PA高多少分贝? 解:在A/B界面上有PA/P0=(ZB-ZA)/(ZB+ZA),则PA=P0[(ZB-ZA)/(ZB+ZA)],在A/B界面上的透射声压Pt即为B/C界面的入射声压, 则Pt/P0=2ZB/(ZB+ZA),Pt=P0[2ZB/(ZB+ZA)],在B/C界面上反射声压PB应为:PB/Pt=(ZC-ZB)/(ZC+ZB),即PB=Pt[(ZC-ZB)/(ZC+ZB)], 在B/A界面的透过声压为:PB'=PB[2ZA/(ZB+ZA)]=P0[4ZAZB/(ZB+ZA)2][(ZC-ZB)/(ZC+ZB)] 因此:20log(PB'/PA)=......≈12dB 13.用直探头探测一个厚度为350mm的钢制锻件,在150mm处发现一个平底孔当量为Φ2mm的缺陷,该缺陷回波高度比基准波高要高出8dB,求所用的探伤灵敏度。 答:所用的探伤灵敏度为Φ3mm平底孔当量 14.用一个钢中折射角63.4°的斜探头检查横波速度2250米/秒,厚度20毫米的铜合金板材,已知探伤仪的时基线按铜合金试块1:1声程定位,现在时基线70mm处发现缺陷回波,该缺陷的水平距离与埋藏深度各为多少? 解:先求该探头在铜合金中的折射角: sinβ2=(2250/2700)sinα=(2250/2700)(2700/3230)sinβ1,求得β2=38.5° (???择探头斜楔的纵波声速2700米/秒,钢中横波声速3230米/秒); 埋藏深度h=70cosβ2-2*20=14.8mm;水平距离L=70sinβ2=43.5mm 15.某钢制转子锻件外径φ950mm,内径φ150mm,在用φ20mm,2.5MHz直探头在其外圆周表面探伤时,要求用底波校正探伤灵敏度,使其能检出Φ2mm平底孔当量的缺陷,应把底波从基准波高提高多少分贝?若在280mm深度处发现一个缺陷,缺陷回波比基准波高出13分贝,该缺陷当量多大?(设钢中纵波声速5900米/秒) 解:壁厚S1=(950-150)/2=400mm,波长λ=5.9/2.5=2.36mm 底波法调整探伤灵敏度△dB=20lg(πΦ2/2λS1)=-43.5≈-44dB(需把底波从基准波高提高44分贝:先将仪器上衰减器储存44dB,将探头平稳耦合在工件外圆周面上得到稳定的底波,通过增益调整底波高度为基准波高,例如50%,然后释放衰减器44dB,即为探测400mm深处Φ2mm平底孔当量缺陷的探测灵敏度,注:因为直接在工件上调整底波,在调整增益时仪器已经自动补偿了曲率影响,因此不需另加曲率补偿计算值,这与先在大平底上调整再加曲率补偿的方法是不同的) 缺陷定量Φdb=40lg[(Φ/2)(400/280)] ∵Φdb=13 ∴Φ=2.96mm 16.有一钢制零件厚度400毫米,用2.5MHz、20mm直径的直探头,Φ2mm灵敏度作超声探伤???发现距离探测面200毫米处有一缺陷,其反射波衰减26dB后达到基准波高,求该缺陷的平底孔当量直径是多少? 解:缺陷定量Φdb=40lg[(Φ/2)(400/200)] ∵Φdb=26 ∴Φ=4.47mm 17.用水浸聚焦探头探钢管,当要求水层高度为10mm,检查Φ40mm的钢管时,试计算透镜的曲率半径。解:根据公式r1=[1-(C2/C1)]f,式中:r1-透镜曲率半径;C1-有机玻璃声速;C2-水声速;f-焦距(探头至管子中心的垂直距离), r1=[1-(C2/C1)]f=[1-(1500/2700)](20+10)=(1-0.556)x30=13.3mm 答:检查Φ40mm的钢管时,透镜的曲率半径为13.3mm 18.用水浸聚焦法检查Φ42x4mm的小口径钢管,水层距离为30mm,求偏心距、入射角、折射角、焦距和透镜的曲率半径各为多少?解:已知:钢管Φ42x4mm、水层厚度L2=30mm,r=(42/2)-4=17,y=(R2-X2)1/2,式中:R=Φ/2=21mm X=r·(CL2/CS3)=17x(1.5/3.2)=8mm,y=(212-82)1/2=(377)1/2=19.4mm, 焦距f=L2+y=30+19.4=49.4mm 入射角:sinα=X/R=8/21=0.38,α=22.3°; 折射角:sinβ=r/R=17/21=0.81,β=54.1° 声透镜曲率半径:r'=[(n-1)/n]·f,式中:n=CL1/CL2=2.7/1.5=1.8, r'=[(1.8-1)/1.8]·49.4≈22mm 偏心距:X=8mm 19.用2.5MHzΦ20的直探头对厚度为215mm的钢锻件进行探伤,要求能发现Φ2当量的平底孔缺陷。①怎样调节探伤灵敏度?②在深度200mm处发现一缺陷,用衰减器调节至同一稳定高度时,衰减器读数 nf=20dB,求缺陷大小。(利用AVG曲线计算) 解:根据公式:L0=D2/4λ先计算近场区长度,λ=c/f=5.9/2.5=2.34mm, L0=202/(4x2.34)=43mm Φ2mm的缺陷归一化后得G=2/20=0.1,δ=215mm; 探测距离归一化后得A=215/43=5,由基本AVG曲线查出A=5、G=0.1时的增益值V=48dB。将探头放在工件上,将荧光屏显示的底波调节到某一高度(通常是满屏的80%),增益48dB,仪器的探伤灵敏度调节完毕。 当在129mm处发现一缺陷时,衰减器读数nf=20dB,此时缺陷的增益值为Vf=V-nf,∴Vf=V-nf=48-20=28dB 将缺陷距离化为归一化距离:Af=129/43=3,根据Af=3、Vf=28dB 查基本AVG曲线图得Gf=0.2,缺陷当量大小为Φf=Gf·Df=0.2x20=4mm 答:该缺陷为Φ4当量.(注:基本AVG曲线图考试卷上给出。)
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