[doc格式] 芯片组省去了多相电表中昂贵的电流互感器

[doc格式] 芯片组省去了多相电表中昂贵的电流互感器 芯片组省去了多相电表中昂贵的电流互感 器 业界资讯《电子工程)2009年第4期 芯片组省去了多相电表中昂贵的电流互感器 MaximIntegratedProducts推出MAXQ3108和DS8102芯 片组,可降低多相电表的材料清单(BOM)成本.MAXQ3108 与DS8102配合工作,采用3个低成本分流器替代昂贵的电 流互感器,从而节省了成本和空间. DS8102包含两个高精度,二阶?一?调制器.具有最高 32x的可编程增益.调制器的输出编码至单位码流,大大降低 了隔离和数据耦合的成本.数据处理由MAXQ310S实现,该 双核微控制器接收DS8102的输出码流,将数据解码并转换 至十进制,以产生较宽动态范围的原始ADC采样值.ADC采 样值传输至MAXQ3108的集成数字信号处理器,用于计算多 功能电表所需的功率,电量,功率因数以及RMS电压和电流 参数. MAXQ3108和DS8102芯片组降低了系统总成本,可为 多相电表提供优异的性能和高度的灵活性.MAXQ3108的 DSP具有可编程特性,使该芯片组理想用于多种需要隔离物 理信号和数据采集设备的工业数据采集系统.可提供参考设 计以帮助研发. MAXQ3108提供28引脚TSSOP封装.DS8102提供16 引脚TSSOP封装.两款器件均能工作在一40.C至+85.C温 度范围内. 咨询编号:200904106 新型20VP通道TrenehFET第三代功率MOSFET VishayInte~echnology,Inc发布采用其新型P通道 TrenchFET第三代技术的首款器件Si7137DP,该2OVP通道 MOSFET采用SO一8封装,具备业内最低的导通电阻. 新型Si7137DP具有1.9mn(10V时),2.5m0(4.5V时) 和3.9mQ(2.5V时)的超低导通电阻.TrenchFET第三代 MOSFET的低导通电阻意味着更低的传导损耗,从而确保器 件可以比之前市面上P通道功率MOSFET更低的功耗执行 切换任务. Si7137DP将用作适配器开关,用于笔记本电脑及工业/ 通用系统中的负载切换应用.适配器开关(在适配器/墙壁电 源和电池电源间切换)一直处于导通状态,消耗电流. Si7137DP的低导通电阻能耗低,节省电力并延长两次充电间 . S.S..屯.L.S屯..S屯 的电池可用时间. 对于使用20v器件足够的应用,Si7137DP令设计人员 无须依赖30V功率MOSFET,直到最近30V功率MOSFET 才成为具有如此低导通电阻范围的唯一P通道器件.最接近 的同类20VP通道器件具有12V以上的栅极至源极额定 值.在4.5V栅极驱动时导通电阻为14mfl,且没有lOV栅 极至源极电压的特点.在同类30V器件中,采用SO一8封装 尺寸的最低P通道导通电阻在lOV以及4.5V时分别为 3.5mn和6.3mn.约Si7137DP的1倍. 咨询编号:2OO9041O7 CAT4106四通道LED驱动器 安森美半导体推出新的6W发光二极管(LED)驱动器 CAT4106.这种器件具有集成的大功率直流一直流升压转换 器.以及片上诊断功能,能提升能效至最高,应用于较大尺寸 的通用液晶显示面板背光. CAT4106是多通道升压型LED驱动器,能够驱动多达 40个白光LED或共4串,每串各为10个LED,电压达36V, 提供总计达6W的LED输出功率.这种器件还内置诊断功 能,自动调节输出电压,以最低的余量电压驱动最高的正向 电压串.帮助设计人员提升背光能效至最高,以减少电路板 的占用空间. 片上诊断功能使设计人员以外部编程电阻,设定最低及 最高电压限制,确定LED串可接受的工作电压范围.可检测 到任何不在开路或短路LED设定范围内稳流的通道,并标记 在故障逻辑输出(低电平触发功能,开漏).这器件还具有热 关机及过压保护功能. CAT4106具有低压降的LED通道,175mA电流时LED 通道压降仅为500mV;还具有高频脉宽调制接口,它支持达 2kHz的多种频率.即便器件仍然完全偏置时,也能提供精 确,高精度的调光控制.片上诊断功能,带可调节LED短路, 开路检测 CAT4106LED驱动器采用节省空间的4mmx4mm,16 引脚TQFN封装,及采用暴露热焊盘以提高功率耗散性能的 16引脚TSSOP封装.现已提供样品和评估板. 咨询编号:200904108 正是电缆限制了响应的上升时间;速率越高,电缆越长,问 会更严重;所有电缆,无论电缆长度,质量如何,都会在一定 程度表现出图6,图7所示特性;必须寻求解决电缆损耗的方 案.以充分利用驱动器的带宽,否则,只能选用高质量电缆, 而成本的增加又对提高应用的系统性能作用不大;在电路中 设计电缆补偿可以解决电缆损耗问题. 7 高速测试设备中使用的电缆会严重影响系统的整体性 一 128- .sL.s.s也L.s屯 能,最终制约系统指标.由于不同电缆的价格差异较大,高速 测试设备大多选用损耗较大的劣质电缆.当速率接近或超过 1Gb/s时,设计人员必须考虑电缆损耗.使用宽带驱动器也 无法补偿电缆的损耗,因此,电缆成为限制系统性能的关键 因素. 为了充分利用带宽大于1Gb/s的测试设备的性能,必须 解决电缆损耗问题.值得庆幸的是,目前已经能够获得解决 电缆补偿问题的有效方案.